GB/T20018-2005金屬與非金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量β射線背散射法內容是什么?百檢網檢測范圍廣泛，可根據客戶需求選擇合適的檢測標準及項目安排檢測，全國近千家合作實驗室，CMA/CNAS資質齊全，可就近安排寄樣檢測。今天百檢網就給大家簡單介紹一下GB/T20018-2005金屬與非金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量β射線背散射法標準內容。

1范圍

警告 測量覆蓋層厚度的β射線背散射儀使用各種放射源,盡管這些放射源的強度通常很低,但如果處理不當,對人的健康還是有害的。因此操作人員必須遵守現行的國際和國家標準及地方法規。

本標準規定了應用β射線背散射儀無損測量覆蓋層厚度的方法。它適用于測量金屬和非金屬基體上的金屬和非金屬覆蓋層的厚度。使用本方法,覆蓋層和基體的原子序數或等效原子序數應該相差個適當的數值。

注:由于X射線熒光方法的使用,β射線背散射方法越來越少用于覆蓋層厚度的測量,然而,由于它的消耗低,對許

多應用來說,它仍是一種非常有用的測量方法。此外,它具有較寬的測量范圍。

2.術語和定義

下列術語和定義適用于本標準。

2.1 放射性衰變 radioactive decay

一種自然的核蛻變。蛻變中放射粒子或射線或被軌道電子捕獲而放射Ⅹ射線,或原子核發生自然裂變[ISO 921:1997,定義972]。

2.2 β粒子 beta particle

核蛻變過程中,由原子核或中子發射的帶正電荷或帶負電荷的電子[ISO 921:1997,定義81]。

2.3 發射β的同位素 beta-emitting isotope

β發射源beta- emitting source

β發射體 beta-emitter

其原子核發射β粒子的物質。

注1:β發射體可以按其蛻變時釋放出來的粒子的*大能級分類。

注2:表A.1列出了射線背散射儀使用的一些同位素。

2.4 電子伏特 electron-yolt

一個能量單位,等于通過電位差為1V的一個電子的能量變化[ISO 921:1997,定義393]。

注1:1ev=1.60219×10的19次方J。

注2:因為這個單位對所遇到的β粒子來說太小,所以通常用百萬電子伏特(MeV)。

2.5 活度 activity

衰變率 disintegration rate

在一個適當小的時間間隔內,一定數量物質發生的自然核蛻變數除以該時間間隔[ISO 921:1997,定義23]。

注1:在β背散射測量中,活度越高,相應的β粒子發射就越多。

注2:活度的國際單位是貝克勒爾(Bq)。用在β背散射儀的放射性元素的活度通常以微居里(μCi)表示(1μCi=

3.7×10的4次方Bq,表示每秒中有3.7×10的4次方個衰變)。

2.6 放射性半衰期 radioactive half-ife

一放射性衰變的活度減少到它原來數值一半所需耍的時間[ISO 921:1997,定義975]。

2.7 散射 scattering

入射的粒子或輻射與粒子或粒子體系碰撞而使其方向或能量發生變化的過程[ISO 921:1997,定義1085]。

2.8 背散射 backscatter

粒子進入物體沿同一表面背向離開該物體的散射。

注:β射線以外的輻射由覆蓋層和基體產生發射或背散射,它們中有一些可能被包含在背散射測量之中,在本標準

中,背散射這一語的使用意味著所有輻射測量。

2.9 (物體的)背散射系數 R backscatter coefficient(of a body)

物體背散射粒子數與入射粒子數之比。

注:R值與同位素活度和測量時間無關。

2.10 背散射計數 backscatter count

2.10.1 *背散射計數 X absolute backscatter count

在一固定的時間間隔內,檢測器接收到的背散射粒子數。

注:X與同位素的活度測量時間、測量系統的幾何形狀以及檢測器的性能有關。通常,設無覆蓋層材料得到的計

數為X。,覆蓋層材料得到的計數為X,為得到這些數值,所得材料的厚度都應超過其飽和厚度(見2.13)。

2.10.2 歸一化背散射計數 X normalized backscatter count

一個與同位素的活度、測量時間和檢測器性能無關的數值,它由下式決定:

…………

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